[发明专利]一种检测BGO晶体的残余双折射的装置和方法有效
| 申请号： | 201910495763.0 | 申请日： | 2019-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN110160965B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 吴重庆 | 申请（专利权）人： | 南京恒高光电研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 葛潇敏 |
| 地址： | 210046 江苏省南京市栖*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种检测BGO晶体的残余双折射的装置，包括光源、起偏器、1/4波片、具有水平旋转和侧滚旋转功能的光学微调架(简称微调架)、偏振分析仪和计算机。本发明还公开一种检测BGO晶体的残余双折射的方法，首先获取起偏器产生的圆偏振光直接注入偏振分析仪得到的偏振态；然后，将待测BGO晶体置于微调架上，起偏器产生的圆偏振光经待测BGO晶体后注入偏振分析仪得到对应的偏振态，调节微调架，使得到的偏振态与未经过待测BGO晶体的偏振态一致；调节微调架水平旋转和侧滚旋转，得到旋转角度与对应的偏振态；由此计算残余双折射。此种技术方案可通过对输出光偏振态的检测，直接计算BGO晶体残余的微小双折射。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 bgo 晶体 残余 双折射 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测BGO晶体的残余双折射的装置，其特征在于：包括光源、起偏器、1/4波片、具有水平旋转和侧滚旋转功能的光学微调架、偏振分析仪和计算机，起偏器设于光源的输出端，将光源产生的光转换为线偏振光，然后送入1/4波片变为圆偏振光后，直接投射到偏振分析仪上，得到对应的偏振态送入计算机，并使圆偏振光经过置于光学微调架上的待测BGO晶体后再投射到偏振分析仪上，通过旋转光学微调架从而得到一个变化的偏振态轨迹，并送入计算机，由计算机根据接收的偏振态计算出待测BGO晶体的残余双折射。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京恒高光电研究院有限公司，未经南京恒高光电研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910495763.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
