[发明专利]单晶叶片冲击试验测量数据修正方法及修正系统有效
| 申请号： | 201910496388.1 | 申请日： | 2019-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN110210153B | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 王心美;丁智临;李磊;岳珠峰 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/17 | 分类号： | G06F30/17 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 阚梓瑄 |
| 地址： | 710072 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本公开提供一种单晶叶片冲击试验测量数据修正方法及修正系统，用于修正参考数据文件截断后生成的待修正文件，涉及数据分析领域。该修正方法包括读取待修正文件，并提取待修正文件的各通道属性信息；根据待修正文件的各通道属性信息及通道代号与各通道属性信息的一一对应关系确定待修正文件的通道代号，并将待修正文件的各通道代号按照预设顺序排列，得到与参考数据文件通道信息匹配的待修正文件的通道信息；根据待修正文件的各通道信息及预设参数修改并输出修正后的文件。本公开的单晶叶片冲击试验测量数据修正方法及修正系统可找回因数据截断而丢失的通道信息，保证数据分析的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 叶片 冲击 试验 测量 数据 修正 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单晶叶片冲击试验测量数据修正方法，用于修正参考数据文件截断后生成的待修正文件，所述参考数据文件包括试验数据、通道代号及与各所述通道代号一一对应的各通道属性信息，其特征在于，包括：读取所述待修正文件，并提取所述待修正文件的各通道属性信息；根据所述待修正文件的各通道属性信息及所述通道代号与所述各通道属性信息的一一对应关系确定所述待修正文件的通道代号，并将所述待修正文件的各通道代号按照预设顺序排列，得到与所述参考数据文件通道信息匹配的所述待修正文件的通道信息；根据所述待修正文件的各通道信息及预设参数修改并输出修正后的文件。
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