[发明专利]大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统及测量方法在审
申请号: | 201910497113.X | 申请日: | 2019-06-10 |
公开(公告)号: | CN110108251A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 江永琛;王锦清;苟伟;虞林峰;蒋甬斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海天文台 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪 |
地址: | 200030*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统,包括主反射面和副反射面,主反射面的中心处设有馈源仓,副反射面的边沿处安装有第一激光器,馈源仓的顶端为平面,平面上安装有馈源喇叭、黑色接收板、和长距离激光测距设备,馈源喇叭的侧面安装有对准所述黑色接收板的相机,长距离激光测距设备测量其到副反射面之间的距离。此外,本发明还提供了副反射面位姿测量方法。本发明的副反射面位姿测量系统采用PSD法代替射电法检测,可以在大型射电望远镜建设初期链路系统不完善的情况下获取副反射面的三维位移数据,构建副反射面的三维的重力模型,并对温度、风载和瞬时启停这类不稳定的因素对副反射面位姿的影响进行定量定性分析。 | ||
搜索关键词: | 副反射面 大型射电望远镜 反射 位姿测量系统 激光测距 馈源喇叭 接收板 馈源 定性分析 侧面安装 链路系统 三维位移 设备测量 位姿测量 重力模型 主反射面 激光器 中心处 构建 启停 位姿 对准 三维 测量 相机 检测 建设 | ||
【主权项】:
1.一种大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统,包括主反射面(1)和副反射面(2),所述主反射面(1)的中心处设有一馈源仓(3),其特征在于,所述副反射面(2)的边沿处安装有一第一激光器(21),所述馈源仓(3)的顶端为一平面,该平面上安装有馈源喇叭(4)、一与所述第一激光器(21)彼此对准的黑色接收板(5)、和一长距离激光测距设备(6),所述馈源喇叭(4)的侧面安装有一对准所述黑色接收板(5)的相机(41),所述长距离激光测距设备(6)测量其到副反射面(2)之间的距离。
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