[发明专利]基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置

摘要

本发明公开了基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，包括：包括：激光光源、扩束镜、第一透镜、第二透镜、第一平面平晶、第二平面平晶、半反半透镜、采集模块和电脑处理终端；所述激光光源、扩束镜、第一透镜、半反半透镜和第一平面平晶通过光线连接，所述采集模块与所述电脑处理终端电连接，所述半反半透镜与第一平面平晶之间设有检测场。本发明通过水平和竖直两个维度进行检测，得到待测气体的折射率梯度、密度梯度、密度分布以及温度分布，适用性更强，提高检测准确性，大大降低了检测工序。

主权项

1.基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于，包括：激光光源、扩束镜、第一透镜、第二透镜、第一平面平晶、第二平面平晶、半反半透镜、采集模块和电脑处理终端；所述激光光源、扩束镜、第一透镜、半反半透镜和第一平面平晶通过光线连接，所述采集模块与所述电脑处理终端电连接，所述半反半透镜与第一平面平晶之间设有检测场；所述第一平面平晶沿竖直方向设置，所述第一平面平晶与垂直地面方向形成第一倾角θ₁，所述第二平面平晶沿水平方向设置，所述第二平面平晶与水平地面方向形成第二倾角θ₂；所述激光光源发出的光束依次通过扩束镜、第一透镜和半反半透镜后，射入检测场，光束经过检测场后射入第一平面平晶，光束经过第一平面平晶后出射光射向检测场，透过检测场的光束被半反半透镜反射到第二平面平晶，第二平面平晶的出射光透过第二透镜射入采集模块。