[发明专利]应用于激光诱导击穿光谱的非线性定量分析方法有效

专利信息
申请号: 201910503170.4 申请日: 2019-06-11
公开(公告)号: CN110398488B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 付洪波;贾军伟;王华东;张志荣 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71;G06F17/10;G06F17/11
代理公司: 合肥初航知识产权代理事务所(普通合伙) 34171 代理人: 谢永
地址: 230001 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及原子发射光谱测量技术领域,具体地说,涉及一种应用于激光诱导击穿光谱的非线性定量分析方法。其利用激光诱导击穿光谱系统采集一组定标样品的等离子体发射光谱并进行处理,进而获取一组Cs与pki×SA(Cs)的映射值,基于(pki×SA(Cs))max=pki,推算出对应元素的浓度与自吸收系数的间的函数SA(Cs);之后对对应元素的浓度未知的待测样品进行分析,假设对应元素的初始推测浓度Cs′,并代入函数SA(Cs)中,求解SA(Cs′),利用公式Iki=pki×SA(Cs)CsNfull,获取计算浓度Cs″;直至Cs′≈Cs″,即为对应元素的含量。本发明能够较佳地提高不同元素浓度下自吸收系数SA的准确性,从而改进了定量分析的准确度。
搜索关键词: 应用于 激光 诱导 击穿 光谱 非线性 定量分析 方法
【主权项】:
1.应用于激光诱导击穿光谱的非线性定量分析方法,其包括以下步骤:步骤S1、在同等条件下,利用激光诱导击穿光谱系统采集一组定标样品的等离子体发射光谱并进行处理,提取对应元素特征谱线的实验积分强度Iki;该步骤中,所述一组定标样品中的元素成分及对应元素的浓度Cs均已知,且不同定标样品中所述对应元素的浓度Cs均不同;步骤S2、利用公式Iki=pki×SA(Cs)CsNfull,根据不同定标样品中所述对应元素的浓度Cs、总粒子数密度Nfull以及对应的Iki,获取一组Cs与pki×SA(Cs)的映射值,基于(pki×SA(Cs))max=pki,推算出对应元素的浓度与自吸收系数的间的函数SA(Cs);其中,pki为仅与实验条件有关的常数;步骤S3、对对应元素的浓度未知的待测样品进行分析,此时,保证在与步骤S1中所述的同等条件下利用激光诱导击穿光谱系统采集待测样品的等离子体发射光谱并进行处理,提取对应元素特征谱线的积分强度Iki′;步骤S4、假设对应元素的初始推测浓度Cs′,并代入由步骤S2获取的函数SA(Cs)中,求解SA(Cs′),SA(Cs′)即为对应元素浓度为Cs′时的该条特征谱线的自吸收系数SA;步骤S5、利用公式Iki=pki×SA(Cs)CsNfull,获取计算浓度Cs″;步骤S6、一次或多次执行步骤S4和步骤S5,直至Cs′≈Cs″,即为对应元素的含量。
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