[发明专利]基于散斑干涉的变形和应变同步测量系统及测量方法在审
申请号: | 201910505296.5 | 申请日: | 2019-06-12 |
公开(公告)号: | CN110118537A | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 王永红;陈维杰;赵琪涵;孙方圆;钟诗民 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542 | 代理人: | 余罡 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种基于散斑干涉的变形和应变同步测量系统及测量方法,涉及光学测试技术领域。其特征在于:包括激光器和分束镜,所述激光器发射的激光经所述分束镜分为透射光和反射光;所述透射光经扩束镜扩束后照射至被测物形成漫反射光;所述反射光依次经光纤和分光棱镜后作为参考光进入光路;所述漫反射光依次经光阑、成像透镜、分光棱镜和迈克尔逊剪切装置后,获得具有剪切量的两束物光;所述光纤引入的参考光经迈克尔逊剪切装置后,获得具有剪切量的两束参考光;所述具有剪切量的两束物光和具有剪切量的两束参考光在CCD相机的靶面上干涉,形成散斑干涉图。本发明可对被测物进行散斑和剪切的同步动态检测,是一种无损、全场、高精度的测量系统。 | ||
搜索关键词: | 参考光 剪切量 散斑干涉 同步测量系统 分光棱镜 剪切装置 漫反射光 被测物 反射光 分束镜 透射光 物光 变形 光纤 测量 光学测试技术 激光器发射 测量系统 成像透镜 同步动态 激光器 剪切 扩束镜 光阑 光路 扩束 散斑 无损 照射 激光 干涉 引入 检测 | ||
【主权项】:
1.一种基于散斑干涉的变形和应变同步测量系统,其特征在于,所述测量系统包括:激光器(1);分束镜(2),所述激光器发射的激光经所述分束镜分为透射光和反射光;所述透射光经扩束镜(3)扩束后照射至被测物(4)形成漫反射光;所述反射光依次经光纤(7)和分光棱镜(8)后作为参考光进入光路;所述漫反射光依次经光阑(5)、成像透镜(6)、分光棱镜(8)和迈克尔逊剪切装置(11)后,获得具有剪切量的两束物光;所述光纤(7)引入的参考光经迈克尔逊剪切装置(11)后,获得具有剪切量的两束参考光;所述具有剪切量的两束物光和具有剪切量的两束参考光在CCD相机(12)的靶面上干涉,形成散斑干涉图。
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