[发明专利]一种测试走线DUT性能的仿真方法有效
| 申请号： | 201910505355.9 | 申请日： | 2019-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN110298086B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 吴均;黄刚 | 申请（专利权）人： | 深圳市一博科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) 44276 | 代理人： | 田志远;袁浩华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了电路板测试领域中的一种测试走线DUT性能的仿真方法，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在2xthru+DUT线中，进行1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。本发明仅通过精确的仿真就可以得到DUT的性能，无须购买昂贵的专业去嵌软件，其与专业的去嵌软件相比，成本得到了大幅度降低，并且本发明能够得到高精度的仿真结果，整个仿真过程操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 dut 性能 仿真 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试走线DUT性能的仿真方法，其特征在于，包括获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数；3D仿真拟合所述2xthru线；拟合完成后，修改模型，仿真得到1xthru线的参数；在所述2xthru+DUT线中，进行所述1xthru线的去嵌，得到去嵌之后的DUT参数。
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