[发明专利]一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪在审

专利信息
申请号: 201910508745.1 申请日: 2019-06-13
公开(公告)号: CN110208204A 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 苗春磊 申请(专利权)人: 苗春磊
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01N21/01
代理公司: 郑州德勤知识产权代理有限公司 41128 代理人: 苏志洋
地址: 450001 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,属于光学物质测量技术领域。包括光源、第一透镜、第一DMD芯片、分光补偿模块、平面反射镜、倾角反射镜、第二透镜、光电探测器、模数转换器和控制处理器;光源发出的入射光能够依次经第一透镜透射、第一DMD芯片反射到达分光补偿模块处,该分光补偿模块用于无色散地将入射光分为两束分光,其中一束分光能够依次经平面反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处,另一部分能够依次经倾角反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处。本发明能够获得准确清晰的光谱图,提高最终光谱仪的测量精度。
搜索关键词: 透镜 分光补偿 光电探测器 透射 反射 傅里叶变换光谱仪 平面反射镜 反射镜 入射光 分光 光源 测量技术领域 控制处理器 模数转换器 光谱仪 光学物质 光谱图 无色 测量 清晰
【主权项】:
1.一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,其特征在于, 包括光源、第一透镜、第一DMD芯片、分光补偿模块、平面反射镜、倾角反射镜、第二透镜、光电探测器、模数转换器和控制处理器;光源发出的入射光能够依次经第一透镜透射、第一DMD芯片反射到达分光补偿模块处,该分光补偿模块用于无色散地将入射光分为两束分光,其中一束分光能够依次经平面反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处,另一束分光能够依次经倾角反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处;倾角反射镜的镜面方向与入射向其镜面的光路方向呈设定角度,用于使两束分光形成光程差;控制处理器通过模数转换器与光电探测器连接,用以获取干涉图像;控制处理器还与第一DMD芯片连接,用以控制微镜阵列的摆动。
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