[发明专利]一种高反光材料表面检测方法及系统在审
| 申请号： | 201910510529.0 | 申请日： | 2019-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN110412035A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 王永力;王星泽 | 申请（专利权）人： | 合刃科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高反光材料表面检测方法及系统，逐一采用不同照射角度的偏振光源对待测材料表面进行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；采用检偏器对每个偏振光源的反射光进行检偏，并拍摄相应的偏振光源下所述待测材料表面的第一图片；将由所述第一图片构成的图片序列进行图像融合处理得到第二图片；根据所述第二图片分析待测材料的表面缺陷。本发明的技术方案能够更全面地检测高反光材料表面缺陷，减少漏检发生。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振光源 高反光材料 表面检测 表面缺陷 待测材料 照射 图片分析 图片序列 图像融合 反射光 检偏器 检偏 漏检 偏振 图片 拍摄 检测 | ||
【主权项】：
1.一种高反光材料表面检测方法，其特征在于，所述方法包括：逐一采用不同照射角度的偏振光源对待测材料表面进行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；采用检偏器对每个偏振光源的反射光进行检偏，并拍摄相应的偏振光源下所述待测材料表面的第一图片；将由所述第一图片构成的图片序列进行图像融合处理得到第二图片；根据所述第二图片分析待测材料的表面缺陷。
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