[发明专利]测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统有效
申请号: | 201910512725.1 | 申请日: | 2019-06-13 |
公开(公告)号: | CN110632497B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 马全伟;孙德印;韦虎;王奎;秦建鑫;张君宝 | 申请(专利权)人: | 眸芯科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R21/00;G06F15/78 |
代理公司: | 上海图灵知识产权代理事务所(普通合伙) 31393 | 代理人: | 谢微 |
地址: | 201210 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统,涉及系统芯片测试技术领域。一种测试SOC系统中子系统功耗的方法,各个子系统设置有独立的DCDC电源,电源管理模块控制DCDC电源的开关打开或关闭,从而使待测试目标子系统工作在DCDC电源下;以及,通过PLL控制电路对每个子系统设置独立的时钟选择开关,通过控制各个子系统对应的时钟选择开关打开或关闭使待测试目标子系统工作在PLL时钟上。本发明能够对各个子系统的电源和PLL时钟进行独立控制,控制电源和PLL时钟的输出和关闭,从而使分析子系统功耗变得简单。 | ||
搜索关键词: | 测试 soc 系统 中子 功耗 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测试SOC系统中子系统功耗的方法,其特征在于:对SOC系统的每个子系统设置独立的DCDC电源,且该DCDC电源对应设置有DCDC电源开关,所述DCDC电源开关由电源管理模块控制打开或关闭;以及,设置PLL控制电路,通过所述PLL控制电路对每个子系统设置独立的PLL选择开关,当其中一个或多个PLL选择开关打开时,PLL就有输出,否则PLL无输出处于关闭状态;/n测试目标子系统的功耗的步骤包括,/n控制目标子系统对应的DCDC电源打开且其它子系统对应的DCDC电源关闭;/n控制目标子系统对应的PLL选择开关打开且其它子系统对应的PLL选择开关关闭,使得目标子系统工作在PLL时钟上;/n执行目标子系统测试代码,测出DCDC电源功耗W1;/n控制目标子系统对应的PLL选择开关关闭,使目标子系统工作在系统时钟上;/n控制目标子系统对应的DCDC电源关闭,测出DCDC电源功耗W2,前述功耗W1减去W2的值为所述目标子系统的功耗值。/n
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