[发明专利]一种金属分层缺陷精确定位的湿磁粉探伤检验方法在审
| 申请号： | 201910517451.5 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN110333283A | 公开（公告）日： | 2019-10-15 |
| 发明（设计）人： | 扈立;侯强;魏刚;陈燕;韩春梅;李志群;郑飞 | 申请（专利权）人： | 天津钢管制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84;G01N1/32 |
| 代理公司： | 天津才智专利商标代理有限公司 12108 | 代理人： | 吕志英 |
| 地址： | 300301 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种金属分层缺陷精确定位的湿磁粉探伤检验方法，该方法步骤为：使用无损探伤设备在平行于分层缺陷平面的样品外表面初步确定缺陷平面在金属材料中的大致位置，并在样品外表面进行标记。在标记缺陷位置沿垂直于样品表面方向切开，使分层缺陷平面与锯切平面垂直。对带有裂纹缺陷的锯切平面进行研磨抛光处理，随即对抛光面进行湿磁粉探伤，精确标定分层缺陷在试样据切面的位置。对试样据切面进行金相抛光并使用4％HNO3+96％C2H5OH溶液腐蚀，并在金相显微镜下观察缺陷的微观形貌。本发明的有益效果是：该方法能够快速、准确地实现分层缺陷在金属材料中的定位，有效解决了传统分析方法对分层缺陷位置难以准确确定的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 分层缺陷 磁粉探伤 样品外表面 金属材料 金属分层 切平面 垂直 切面 无损探伤设备 研磨抛光处理 样品表面方向 金相显微镜 标记缺陷 传统分析 大致位置 金相抛光 裂纹缺陷 溶液腐蚀 微观形貌 有效解决 抛光面 平面的 标定 检验 切开 平行 观察 | ||
【主权项】：
1.一种金属分层缺陷精确定位的湿磁粉探伤检验方法，其特征是：该方法包括以下步骤：步骤一，使用无损探伤设备，在平行于分层缺陷平面的样品外表面初步确定缺陷平面在金属材料中的大致位置，并在样品外表面进行标记；步骤二，在标记缺陷位置沿垂直于样品表面方向切开，使分层缺陷平面与锯切平面垂直，分层缺陷在锯切平面上呈线状分布；步骤三，对带有裂纹缺陷的锯切平面进行研磨抛光处理，随即对抛光面进行湿磁粉探伤，精确标定分层缺陷在试样据切面的位置；步骤四，对试样据切面进行金相抛光并使用4％HNO3+96％C2H5OH溶液腐蚀，并在金相显微镜下观察缺陷的微观形貌。
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