[发明专利]一种非接触式串口的调试电路有效

专利信息
申请号: 201910517464.2 申请日: 2019-06-14
公开(公告)号: CN110351547B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 韩小江;张坤 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/765
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种非接触式串口的调试电路,其中包括:可切换的选通单元与测试单元;测试平台,测试平台具有数字信号光缆接口,选通单元采用数字信号光缆接口对数字信号进行传输,并对串口信号使能选通,以在数字信号的传输通道与串口信号的传输通道之间切换;测试端,具有串口信号光缆接口,串口信号光缆接口与数字信号光缆接口转换复用,测试单元采用串口信号光缆接口对串口信号进行传输并测试。有益效果:在原有的数字信号通道上实现串口信号的非接触式的调试方式,不但成本低廉而且复杂程度不高,还能有效防止接触式的调试方式的存在的静电损坏设备的潜在问题,并且不需要特殊软件的工作量,具有经济效益和实用性。
搜索关键词: 一种 接触 串口 调试 电路
【主权项】:
1.一种非接触式串口的调试电路,其特征在于,包括:可切换的选通单元与测试单元;一测试平台,连接所述选通单元,所述测试平台具有一数字信号光缆接口,所述选通单元采用所述数字信号光缆接口对数字信号进行传输,并对串口信号使能选通,以在数字信号的传输通道与所述串口信号的传输通道之间切换;一测试端,分别连接所述测试平台与所述测试单元,所述测试端具有一串口信号光缆接口,所述串口信号光缆接口与所述数字信号光缆接口转换复用,所述测试单元采用所述串口信号光缆接口对所述串口信号进行传输并测试。
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