[发明专利]一种磁簧开关测试的方法在审

专利信息
申请号: 201910520196.X 申请日: 2019-06-17
公开(公告)号: CN110231561A 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 王爱华 申请(专利权)人: 王爱华
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226699 江苏省南通*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种磁簧开关测试的方法,涉及磁簧开关测试技术领域;它的测试方法如下:步骤一:设计磁簧开关测试仪;步骤二:测试顺序的方法及选择;步骤三:测试机误差源的影响设置或补偿的实现;步骤四:测试仪外部磁场影响补偿的实现;本发明通过串口进行不同测试产品型号的设定,并且有效的克服测试过程中带来的机械误差,环境误差和采样电路中产生的误差,通过单片机可以设置校正偏差;采用的标准做法是将磁簧开关的触点间隙置于线圈中心,通过目视或测量及重新放置,直到获得最低灵敏值,来使磁簧开关置中;还有测试仪通过4线制的测量来确保测试仪的测试精度,符合工业生产应用。
搜索关键词: 磁簧开关 测试 测试仪 测量 串口 测试技术领域 标准做法 采样电路 测试产品 测试过程 触点间隙 环境误差 机械误差 外部磁场 线圈中心 影响补偿 测试机 单片机 误差源 目视 校正 灵敏 应用
【主权项】:
1.一种磁簧开关测试的方法,其特征在于:它的测试方法如下:步骤一:设计磁簧开关测试仪:基于AT89S51单片机为主芯片,同时测试仪自带串口通讯可设定修改参数,采用并联双线圈施加测试外加磁场激励,电源稳压电路提供线圈的工作电压,通过数模转换芯片TLC5615及OPA541功放电路来调节线圈二端施加的激励源,通过LED显像管来显示实际测量的值以及触点电阻值,通过门电路74HC240来控制测试仪的实际工作状态显示灯,操作人员清楚的了解测试仪器的当前工作状态;步骤二:测试顺序的方法及选择:(2.1)、在任何情况下,将闭合或打开时的电流乘以测试线圈的匝数即可得出灵敏值与回动值;而且,在任何情况下,通过反转线圈升降方向及监控反转开关状态来确定回动值;(2.2)、自动升降、自动读数方法;使用电路升降线圈,首选数字控制电路;此外,使用微处理器或其它控制电路控制线圈电流的测量, 使上面显示的整个测试顺序波形自动重复执行;步骤三:测试机误差源的影响设置或补偿的实现:测试仪为了获得准确、稳定的灵敏值及回动值读数,需要重点考虑若干偏差或误差源;(3.1)、由于磁簧开关对磁场作出响应,而线圈磁场强度则直接与通过线圈的电流成比例,因此,需要控制或测量线圈的电流;由于温度的影响,测量线圈电压并无帮助;铜金属有0.393%/°C的电阻温度系数,因此,环境温度或线圈自热都很容易影响使用线圈电压获得的测量结果;(3.2)、应控制线圈内的磁簧开关位置;标准做法是将磁簧开关的触点间隙置于线圈中心;如果无法通过目视或测量来确定触点中心,则可以通过测量及重新放置,直到获得最低灵敏值,来使磁簧开关置中;(3.3)、需要考虑外部磁场;(3.4)、测试线圈附近的铁材料通过改变磁场来形成误差;(3.5)、对磁簧开关玻璃或引线施加过大的压力可能通过轻微改变磁簧开关的触点间隙来影响开关的灵敏值读数;(3.6)、磁簧开关内的线有少量磁记忆;这些线的磁记忆可以通过消磁或中和来清除;(3.7)、测量CR时,应首选4线连接,以使测试连接对磁簧开关的影响最小化;Hamlin触点间隙标准为25.4毫米;铁磁簧开关线的电阻比较明显;根据线的直径,磁簧开关引线的电阻约为1.2‑3.0莫姆/毫米;因此,2毫米的测试触点间隙误差对触点电阻的影响即可达到若干莫姆;步骤四:测试仪外部磁场影响补偿的实现:要确定是否有外部磁场影响读数,只要交换线圈的连接来反转线圈极性;如果读数没有明显变化,则表示没有明显的外部磁场影响;如果有明显变化,则有若干方法可以补偿外部磁场;(4.1)、旋转线圈轴并重新测试,直到正常及反转线圈极性之间的读数没有明显变化;这将使线圈及磁簧开关轴与外部磁场正交,防止干扰;(4.2)、为线圈增加补偿电流,以补偿外部磁场;(4.3)、将测量的读数增加或减去适当数量;(4.4)、始终使用双线圈记性进行测试,并计算测试结果的平均值。
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