[发明专利]半导体器件和消息图像信号输出方法有效
申请号: | 201910521301.1 | 申请日: | 2019-06-17 |
公开(公告)号: | CN110626262B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 川口裕史;安田浩司;高桥明秀 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | B60Q9/00 | 分类号: | B60Q9/00;H04N9/31 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉;董典红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及半导体器件和消息图像信号输出方法。半导体器件具有:位置估计部分,基于移动体的移动信息计算在投影消息图像的规定时间的移动体的估计位置;参考图像信号输出部分,基于估计位置处的移动体与投影区域之间的相对位置关系,决定作为投影参考图像的区域的参考区域,并且输出作为参考图像的信号的参考图像信号;测试图像信号获取部分,获取测试图像信号,所述测试图像信号是通过对其上投影参考图像的参考区域进行成像而获得的图像的信号;以及图像调节部分,基于参考图像信号和测试图像信号调节消息图像信号。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 消息 图像 信号 输出 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,输出消息图像信号,所述消息图像信号是要投影到投影区域上的消息图像的信号,所述投影区域位于距移动体的预定距离处,所述半导体器件包括:/n位置估计部分,基于所述移动体的移动信息,计算在投影所述消息图像的规定时间处的所述移动体的估计位置;/n参考图像信号输出部分,基于所述估计位置处的所述移动体与所述投影区域之间的相对位置关系,决定作为投影参考图像的区域的参考区域,并且输出作为所述参考图像的信号的参考图像信号;/n测试图像信号获取部分,获取测试图像信号,所述测试图像信号是通过对其上投影所述参考图像的所述参考区域进行成像而获得的测试图像的信号;以及/n图像调节部分,基于所述参考图像信号和所述测试图像信号,调节所述消息图像信号。/n
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