[发明专利]一种校准示波器通道的测量延时方法、装置及校准设备有效
| 申请号： | 201910522840.7 | 申请日： | 2019-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN110376539B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 郑丹;范涛;温旭辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 李博洋 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种校准示波器通道的测量延时方法、装置及校准设备，其中方法可以基于待测功率半导体器件在同一驱动状态下的待测电压与待测电流在同一时刻存在波形转折，进而得到待测电压的开关动态波形图发生波形转折的第一波形转折点和待测电流发生波形转折的第二波形转折点，进一步结合第一波形转折点与第二波形转折点之间的相对偏移位置对应的偏移时间，计算特征时间和偏移时间之间的差值，可以准确调整待测电压与待测电流之间在同一驱动状态下存在的相对延时，并且可以降低测量延时的成本,同时适合应用在高速功率开关器件测量开关特性的场景中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校准 示波器 通道 测量 延时 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种校准示波器通道的测量延时方法，其特征在于，包括如下步骤：获取用于测量待测功率半导体器件开关特性的开关动态波形图；根据所述待测功率半导体器件在同一驱动状态下的待测电压与待测电流在同一时刻存在波形转折，分别获取所述待测电压发生所述波形转折的第一波形转折点和所述待测电流发生所述波形转折的第二波形转折点；根据所述开关动态波形图，获取所述第一波形转折点与所述第二波形转折点之间的相对偏移位置，并确定所述相对偏移位置对应的偏移时间；根据所述特征时间和所述偏移时间，计算二者之间的时间差值，所述时间差值为所述第一波形转折点与所述第二波形转折点之间的相对偏移时间；根据所述时间差值，调整所述开关动态波形图使得所述第一波形转折点与所述第二波形转折点之间的所述相对偏移时间为零。
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