[发明专利]海尔贝克阵列式磁悬浮密度测量的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910524016.5 申请日: 2019-06-18
公开(公告)号: CN110286059B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 张文明;高秋华 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N9/20 分类号: G01N9/20
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种海尔贝克阵列式磁悬浮密度测量的方法,将待测物质置于盛有顺磁性溶液的容器内且保证待测物质表面无气泡,再将容器置于活动磁场中,通过调节磁场的间距使待测物质稳定悬浮于容器中,确定悬浮位置距磁场下底面的垂直高度并换算得到待测物质的密度,在不改变顺磁性溶液的浓度下多次重复测量以验证结果。本发明采用海尔贝克阵列,提升磁场梯度的同时,可增大近线性磁场区间,从而扩大待检测对象的密度范围;测量装置灵活可调,能够多次测量以提高结果的准确性与可靠性。
搜索关键词: 海尔 贝克 阵列 磁悬浮 密度 测量 方法 装置
【主权项】:
1.一种海尔贝克阵列式磁悬浮密度测量的方法,其特征在于,将待测物质置于盛有顺磁性溶液的容器内且保证待测物质表面无气泡,再将容器置于活动磁场中,通过调节磁场的间距使待测物质稳定悬浮于容器中,确定悬浮位置距磁场下底面的垂直高度并换算得到待测物质的密度,在不改变顺磁性溶液的浓度下多次重复测量以验证结果;所述的磁场分别通过三枚永磁铁实现,其中:第一磁场从上至下的磁化方向为逆时针,第二磁场从上至下的磁化方向为顺时针,第一磁场的中位磁铁与第二磁场的中位磁铁同名磁极相对。
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