[发明专利]一种非均匀刻度识别方法、装置及计算机存储介质在审
| 申请号： | 201910528095.7 | 申请日： | 2019-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN110245624A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 许华旸;王立平;刘得利;王志超;刘彦雨 | 申请（专利权）人： | 北京史河科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 江宇 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非均匀刻度识别方法、装置及计算机存储介质，所述方法包括：获取目标刻度图像；根据所述目标刻度图像获取对应所述目标刻度图像的刻度段值；获取指针对应于所述目标刻度图像中的指针位置；根据所述指针位置和所述刻度段值计算指针读数。本发明实施例通过将不均匀刻度的仪表盘划分为多个刻度段，并根据指针在具体刻度段内的位置和刻度段值来计算指针读数，有效提高了机器对非均匀指针仪表盘的刻度的识别准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 刻度段 刻度图像 计算机存储介质 非均匀刻度 仪表盘 指针读数 指针位置 指针 获取目标 不均匀 非均匀 准确率 | ||
【主权项】：
1.一种非均匀刻度识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标刻度图像；根据所述目标刻度图像获取对应所述目标刻度图像的刻度段值；获取指针对应于所述目标刻度图像中的指针位置；根据所述指针位置和所述刻度段值计算指针读数。
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