[发明专利]阵列基板及其测试方法有效
| 申请号： | 201910528155.5 | 申请日： | 2019-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN110246443B | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 袁志东;李永谦;袁粲 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方卓印科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 杨广宇 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板及其测试方法，该阵列基板包括多条时钟信号线和多个测试端。由于多条时钟信号线中的至少两条时钟信号线可以与同一个测试端连接，因此相对于相关技术中一条时钟信号线与一个测试端连接，本发明实施例提供的阵列基板上所需设置的测试端数量较少，相应的，与本发明实施例提供的阵列基板上的测试端连接的测试设备所需包含的引脚数量即可以较少，测试设备的生产成本即较低，体积较小。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：栅极驱动电路、多条时钟信号线和多个测试端，所述时钟信号线的数量大于所述测试端的数量；所述多条时钟信号线分别与所述栅极驱动电路和所述多个测试端连接，且至少两条时钟信号线与同一个所述测试端连接；所述多个测试端用于与测试设备连接。
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