[发明专利]一种双光路冷镜式露点仪在审
| 申请号： | 201910534739.3 | 申请日： | 2019-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN110186955A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 张帆 | 申请（专利权）人： | 张帆 |
| 主分类号： | G01N25/68 | 分类号： | G01N25/68 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 413000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及精密仪器技术领域，且公开了一种双光路冷镜式露点仪，包括检测头、设于检测头顶部的观察窗和设于检测头底部的制冷装置，所述检测头内腔的上下端分别设有补偿镜和检测冷镜，所述观察窗位于补偿镜的顶部，所述制冷装置位于检测冷镜的正下方，所述检测头的壁板且位于补偿镜和检测冷镜之间的位置设有入射补偿光路、反射补偿光路、入射检测光路和反射检测光路，所述入射补偿光路和反射补偿光路对应布置形成光学反射系统并用于消除误差。本发明通过将双光路置于同一个检测室内，可使得补偿镜和检测冷镜实现变量控制，由补偿镜消除检测冷镜对于温度、气体杂质等影响光学参数的环境条件误差，从而使得检测冷镜检测的湿度结果更加精准。 | ||
| 搜索关键词： | 冷镜 补偿镜 检测 检测头 双光路 光路 入射 冷镜式露点仪 补偿光路 反射补偿 制冷装置 观察窗 光学反射系统 壁板 变量控制 反射检测 精密仪器 气体杂质 消除检测 影响光学 检测光 头顶部 内腔 室内 | ||
【主权项】：
1.一种双光路冷镜式露点仪，包括检测头(1)、设于检测头(1)顶部的观察窗(4)和设于检测头(1)底部的制冷装置(5)，其特征在于：所述检测头(1)内腔的上下端分别设有补偿镜(2)和检测冷镜(3)，所述观察窗(4)位于补偿镜(2)的顶部，所述制冷装置(5)位于检测冷镜(3)的正下方，所述检测头(1)的壁板且位于补偿镜(2)和检测冷镜(3)之间的位置设有入射补偿光路(6)、反射补偿光路(7)、入射检测光路(8)和反射检测光路(9)，所述入射补偿光路(6)和反射补偿光路(7)对应布置形成光学反射系统并用于消除误差，所述入射检测光路(8)和反射检测光路(9)对应布置形成光学反射系统并用于露点检测，检测头(1)的壁板还设有用于被测气体通入和排出的进气口(10)和出气口(11)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张帆，未经张帆许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910534739.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
