[发明专利]一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法有效
| 申请号： | 201910536473.6 | 申请日： | 2019-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN110161398B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 李玲玲;冯欢;刘汉民;袁冬冬;王高升;刘伯颖 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王利文 |
| 地址： | 300401 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法,包括以下步骤：建立IGBT功率模块的电‑热耦合模型；通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据；建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型，实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。本发明设计合理，其利用IGBT壳温便于测量以及壳温可以反映IGBT老化状态的特点，在评估过程中，充分考虑IGBT老化的影响，通过电‑热耦合模型能够更加准确地获得全新功率模块中IGBT功率损耗和壳温的变化情况，从而利用壳温评估IGBT的老化状态，本发明无需测量结温即可确定模块的老化状态，从而避免疲劳失效造成的损坏，提高电力电子设备运行的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 评估 igbt 功率 模块 老化 状态 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1、建立IGBT功率模块的电‑热耦合模型；步骤2、通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据；步骤3、建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型，实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。
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