[发明专利]辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201910540196.6 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN112114349B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 张丽;孙运达;梁午阳;金鑫;陈志强 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01T1/36;G01T1/02 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 曹蓓;许蓓 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 分析 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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