[发明专利]一种新能源汽车集成电路芯片测试系统及其测试方法

摘要

本发明涉及一种新能源汽车集成电路芯片测试系统及其测试方法，包括测试框，测试框内通过摇摆机构安装有摆动框，摆动框内设置有摆动机构；将集成电路芯片固定在本发明的摆动机构上，摇摆机构与摆动机构之间相互配合模拟汽车行驶中的颠簸状态。本发明可以解决现有汽车用集成电路芯片在生产测试过程中存在的以下难题，a，直接对成型的集成电路芯片进行测试，无法确保集成电路芯片安装到汽车上可以稳定的作业，b简单的对集成电路芯片进行晃动，无法模拟汽车在颠簸路面上行驶时对集成电路芯片的冲击力度，影响集成电路芯片测试的效果。

主权项

1.一种新能源汽车集成电路芯片测试系统，包括测试框(1)，其特征在于：测试框(1)内通过摇摆机构(2)安装有摆动框(3)，摆动框(3)内设置有摆动机构(4)；/n所述摇摆机构(2)包括通过电机座安装在测试框(1)内壁上的摇摆电机(21)，摇摆电机(21)的输出轴上安装有摇摆驱动件(22)，摇摆驱动件(22)连接在摆动框(3)上，摆动框(3)与测试框(1)的内壁之间通过销轴设置有摆动伸缩杆(23)，摆动伸缩杆(23)的外壁上套设有弹簧，摆动框(3)的下端设置有弹簧杆(24)，弹簧杆(24)的下端设置有滚珠，滚珠抵靠在测试框(1)的内壁上；/n所述摆动机构(4)包括设置在摆动框(3)右侧的摆动槽，摆动框(3)的左右两侧的内壁上对称设置有滑动槽(41)，滑动槽(41)内通过滑动配合方式均匀设置有摆动支板(42)，摆动支板(42)上均匀设置有执行支链(43)，执行支链(43)的下端抵靠在驱动板(44)上，驱动板(44)通过滑动配合方式设置在测试框(1)的内壁上，驱动板(44)与测试框(1)的内壁之间设置有缓冲弹簧(45)；/n驱动板(44)上设置有限位架(46)，限位架(46)穿过摆动槽，摆动框(3)的外壁上通过电机座安装有摆动电机(47)，摆动电机(47)的输出轴上通过电机座安装有摆动杆(48)，摆动杆(48)抵靠在限位架(46)的内壁上；/n所述摇摆驱动件(22)包括安装在摆动框(3)下端的环形滑轨(221)，环形滑轨(221)上通过滑动配合方式设置有调节作业杆(222)，调节作业杆(222)安装在调节卡架(223)上，调节卡架(223)的内壁上设置有辅助辊，调节卡架(223)固定在摆动臂(224)上，摆动臂(224)安装在摇摆电机(21)的输出轴上；/n所述调节作业杆(222)贯穿调节卡架(223)，调节作业杆(222)的下端抵靠在测试框(1)的内壁上；/n所述环形滑轨(221)内沿其周向方向均匀设置有调节滑块(225)，调节滑块(225)呈圆弧状结构，调节滑块(225)与调节作业杆(222)之间配合控制摆动框(3)摇摆。/n