[发明专利]一种基于磁纳米粒子的快速粒径分布信息测量方法有效
申请号: | 201910543170.7 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN110132806B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 杜中州;叶娜;孙毅;王丹丹;苏日建;刘文中;甘勇;李娜娜;邹东尧;金保华;朱付保 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业学院 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人: | 栗改 |
地址: | 450002 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明提出了一种基于磁纳米粒子的快速粒径分布信息测量方法,其步骤如下:磁性纳米样品放置在待测对象处;对磁性纳米样品施加单频正弦波激励磁场;采用磁探测传感器实时测量磁化响应信号;采用带通滤波器、低噪声前置放大器和选频放大器对磁化响应信号进行信号调理;采用谐波幅值检测算法进行谐波幅值信息提取;根据郎之万函数构建谐波幅值信息与粒径分布信息之间的函数关系;设置不同的激励磁场强度,获得Z个不同谐波幅值信息与粒径分布信息之间的函数关系组成数学模型;求解得到粒径分布信息。本发明可以实时快速地获取磁纳米粒径分布信息,从根本上解决了磁纳米粒径分布测量实时性较低的问题,同时又避开了高次谐波测量困难的难题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 粒子 快速 粒径 分布 信息 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于磁纳米粒子的快速粒径分布信息测量方法,其特征在于,其步骤如下:步骤一:磁性纳米样品放置在待测对象处,设置初始迭代参数i=1;步骤二:对磁性纳米样品所在区域施加单频正弦波激励磁场;步骤三:采用磁探测传感器实时测量步骤二单频正弦波激励磁场激励下的磁纳米样品的磁化响应信号;步骤四:采用带通滤波器、低噪声前置放大器和选频放大器对步骤三中的磁化响应信号依次进行滤波、前置放大和选频放大的信号调理;步骤五:利用数据采集卡对步骤四中信号调理后获得的信号进行数据采集得到离散信号;步骤六:采用谐波幅值检测算法对步骤五中获得的离散信号进行谐波幅值信息提取;步骤七:根据郎之万函数构建谐波幅值信息与粒径分布信息之间的函数关系;步骤八:设置不同的单频正弦波激励磁场强度,i=i+1且i<=Z,重复步骤二到步骤七获得Z个不同单频正弦波激励磁场强度下的谐波幅值信息与粒径分布信息之间的函数关系,将Z个函数关系组成矩阵方程组得到数学模型;步骤九:求解步骤八中的数学模型得到粒径分布信息。
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