[发明专利]一种量化分析外电场下绝缘气体分子化学稳定性的方法在审
| 申请号： | 201910544827.1 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN110321608A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 李亚莎;周筱 | 申请（专利权）人： | 三峡大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G06Q10/04 |
| 代理公司： | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人： | 成钢 |
| 地址： | 443002 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种量化分析外电场下绝缘气体分子化学稳定性的方法，建立绝缘气体分子模型；选择基组和泛函，优化分子结构；对绝缘气体分子分别施加不同强度电场，获得不同电场强度的分子的稳定结构；计算不同电场强度的绝缘气体阴离子、阳离子的单点能量；计算绝缘气体分子的福井函数值，分析绝缘气体分子不同局部的反应活性；计算绝缘气体每个原子的简缩福井函数值，定量比较原子层面的反应活性；综合分析并预测绝缘气体反应位点及其稳定性。本发明的方法损耗低、成本稳定、简单易行、可重复性高且分析结果微观精确；本发明方法中的福井函数考虑反应物自身电子结构特征来预测反应位点，运算成本低，且方便有效。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘气体 反应活性 反应位点 分子化学 量化分析 单点能量 电子结构 分子结构 分子模型 可重复性 强度电场 稳定结构 原子层面 运算成本 反应物 阳离子 阴离子 预测 综合分析 泛函 基组 微观 施加 优化 分析 | ||
【主权项】：
1.一种量化分析外电场下绝缘气体分子化学稳定性的方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1：建立绝缘气体分子模型；步骤2：选择基组与密度泛函方法，优化分子结构；步骤3：对绝缘气体分子分别施加不同强度电场，优化获得不同电场强度的分子的稳定结构；步骤4：计算不同电场强度下绝缘气体阴离子、阳离子的单点能量；步骤5：计算绝缘气体分子的福井函数值，获取福井函数投影到电子密度等值图，分析绝缘气体分子不同局部的反应活性；步骤6：计算绝缘气体每个原子的简缩福井函数值，定量比较原子层面的反应活性；步骤7：综合分析并预测绝缘气体反应位点及其稳定性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三峡大学，未经三峡大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910544827.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
