[发明专利]一种确定污染云微物理属性的方法有效

专利信息
申请号: 201910548913.X 申请日: 2019-06-24
公开(公告)号: CN110287587B 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 胡斯勒图;王子明;尚华哲;马润 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 马骥;南霆
地址: 100101 北京市朝阳区大屯路甲*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种确定污染云微物理属性的方法,解决了现有技术云微物理属性反演算法在污染背景下仅按单一层云反演微物理属性的问题。包含以下步骤:选取两个不同频段卫星通道;选取波段响应函数曲线上若干积分节点;确定影响卫星通道数据的因子敏感性;根据两个波段响应函数,通过辐射传输模式,构建查找表;对模式提供的云下气溶胶光学厚度进行重采样;根据卫星通道数据和查找表,利用最小方差方法计算云微物理属性。对于污染较重的地区而言,在考虑云‑气溶胶双层结构的前提下反演云光学厚度,有助于提高有云条件下地表太阳辐射的计算精度。
搜索关键词: 一种 确定 污染 物理 属性 方法
【主权项】:
1.一种确定污染云微物理属性的方法,其特征在于,包含以下步骤:提取污染云数据样本上的一个像元点,选取该像元点两个不同频段的卫星通道数据,选取两个卫星通道数据的波段响应函数曲线上多个典型的波段响应函数节点作为积分节点;所述多个典型的波段响应函数节点要达到98%的密集卫星接收辐射亮度光谱积分值;确定影响卫星通道数据的因子敏感性,用所述积分节点,通过辐射传输模式,构建查找表;所述因子敏感性参数包含太阳天顶角、卫星天顶角、相对方位角、云的光学厚度、云粒子的有效半径、气溶胶光学厚度、地表反照率;所述查找表参数包含太阳天顶角、卫星天顶角、相对方位角、云的光学厚度、云粒子的有效半径、气溶胶光学厚度、地表反照率;对模式气溶胶光学厚度数据按通道数据空间分辨率进行重采样;所述模式气溶胶光学厚度是通过模式模拟得出的气溶胶光学厚度;提取的像元点对应不同通道的卫星通道数据,根据查找表,利用最小方差方法计算云微物理属性;所述云微物理属性包含云的光学厚度和云粒子有效半径。
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