[发明专利]用于显示具有精细结构的检查区域的方法有效

专利信息
申请号: 201910555702.9 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN110638478B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: P·休伯;A·哈通;S·克普勒;B·克劳斯;B·施密特;S·施密特 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/12;A61B6/00;A61B34/10
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郑立柱
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于显示用于规划和/或控制植入物的检查区域的方法,该检查区域具有检查对象的与高对比度结构相邻的精细结构,其中高对比度结构包括骨骼和/或植入物。该方法具有以下步骤:‑利用计算机断层扫描系统记录投影测量数据,该计算机断层扫描系统具有计数能量选择性X射线探测器,该探测器具有能通过能障集设定的一定数量的能量阈值,其中,根据能量阈值将第一投影测量数据分成多个光谱投影测量数据,每个光谱投影测量数据被分别分配给不同的X射线能量区域;‑基于多个光谱投影测量数据的加权组合第一次重建第一图像数据集,其中第一图像数据集包含光谱信息,‑基于第一图像数据集确定高对比度结构的至少一个位置信息和/或轮廓信息,‑基于投影测量数据第二次重建第二图像数据集,其中高对比度结构的至少一个位置信息和/或轮廓信息被作为参数包括在重建中,并且其中以比第一图像数据集更高的图像位置分辨率重建第二图像数据集,‑基于第二图像数据集显示具有精细结构的检查区域。
搜索关键词: 用于 显示 具有 精细结构 检查 区域 方法
【主权项】:
1.一种用于显示用于规划和/或控制植入物(12,13)的检查区域的方法(S),所述检查区域具有检查对象的与高对比度结构(12,13,18)相邻的精细结构(14),其中,所述高对比度结构(12,13,18)包括多个骨骼(18)和/或所述植入物(12,13),所述方法包括以下步骤:/n-利用计算机断层扫描系统(31)记录(S1)投影测量数据(PM),所述计算机断层扫描系统具有一个能量选择性X射线探测器(29),所述能量选择性X射线探测器具有能够通过能障集(ES)设定的一定数量的能量阈值,其中,根据所述能量阈值将所述投影测量数据(PM)分成多个光谱投影测量数据(SP
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