[发明专利]一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法

摘要

本发明公开一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法，包括往复运动组件以及上下布置的制热组件和制冷组件，制热组件包括防护罩，防护罩内壁设有用于安装线圈的容置槽，轴向设有容往复运动组件穿过的通孔；制冷组件包括箱体，箱体上表面与通孔对应的位置上设有能够开合的隔热板，箱体内装有冷却液；往复运动组件包括升降杆、载物台和加热盘，载物台固定于升降杆的下端且载物台中部设有容纳腔，加热盘固定于容纳腔中，上表面用于放置试样，试样在升降杆的带动下在制热组件和制冷组件之间进行往复移动。其能够实现对电子元件的封装焊点的快速冷热冲击，有效模拟电子元件实际服役过程中受到的冷热冲击，结构简单，成本低廉。

主权项

1.一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，包括往复运动组件以及上下布置的制热组件和制冷组件，其特征在于：所述制热组件包括线圈（1）和防护罩（2），所述防护罩（2）内壁设有用于安装线圈（1）的容置槽（21），轴向设有容往复运动组件穿过的通孔（22）；所述制冷组件包括箱体（3）和冷却液（31），所述箱体（3）上表面与通孔（22）对应的位置上设有能够开合的隔热板（4），箱体（3）内装有冷却液（31）；所述往复运动组件包括升降杆（5）、载物台（6）和加热盘（7），所述升降杆（5）与制热组件的通孔（22）间隙配合，载物台（6）固定于升降杆（5）的下端且载物台（6）中部设有容纳腔（6），加热盘（7）固定于容纳腔（61）中，所述加热盘（7）上表面用于放置试样（10），当线圈（1）通入电流，加热盘（7）位于防护罩（2）内时，由于电磁效应加热盘（7）发热对试样（10）进行加热；试样（10）在升降杆（5）的带动下在制热组件和制冷组件之间进行往复移动。