[发明专利]一种基于BN(Al)薄膜的电阻开关及制备方法有效

专利信息
申请号: 201910563612.4 申请日: 2019-06-26
公开(公告)号: CN110224064B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 李强;秦潇;云峰 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;C23C14/06;C23C14/16;C23C14/24;C23C14/34
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 田洲
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开一种基于BN(Al)薄膜的电阻开关及制备方法,所述电阻开关,包括硅衬底,硅衬底的一面镀有金属层作为下电极,硅衬底的另一面设有BN(Al)薄膜,BN(Al)薄膜表面设有上电极;构成上电极/BN(Al)/下电极三明治结构电阻开关。本发明首次发现了BN(Al)薄膜具有电阻开关效应,制备成In/BN(Al)/Al三明治结构电阻开关具有良好的开关特性,且稳定性较好。本发明中利用双电源磁控溅射的方式制备BN(Al)薄膜工艺简单,能够实现大面积均匀制备,易实现产业化生产,为制备电阻开关阻变存储器(RRAM)提供一种新的材料及结构原型。
搜索关键词: 一种 基于 bn al 薄膜 电阻 开关 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于BN(Al)薄膜的电阻开关,其特征在于,包括硅衬底,硅衬底的一面镀有金属层作为下电极,硅衬底的另一面设有BN(Al)薄膜,BN(Al)薄膜表面设有上电极;构成上电极/BN(Al)/下电极三明治结构电阻开关。
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