[发明专利]一种基于非饱和与饱和高光区分的图像高光去除方法在审
申请号: | 201910564024.2 | 申请日: | 2019-06-24 |
公开(公告)号: | CN110390648A | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | 段桂芳;芦彦欣;刘振宇;谭建荣 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林超 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于非饱和与饱和高光区分的图像高光去除方法。对于色彩平衡的高光图像,本发明按照漫反射、非饱和高光反射和饱和高光反射的分类标准对图像中的像素进行分类,获得高光图像的像素分类结果;对图像中的非饱和高光反射像素采用镜面分量分离的方法实现高光去除,对饱和高光像素区域采用样本块匹配方法来实现饱和高光像素的信息修复,而对图像中的漫反射像素不作处理,通过合并三种分类像素的结果数据获得不含有高光成分的图像。本发明方法可有效消除图像中的高光,同时不改变原图像中目标的色度信息,处理不同强度的高光分量时鲁棒性强,避免了传统的高光去除算法同时处理饱和与非饱和高光容易失效的问题。 | ||
搜索关键词: | 高光 图像 饱和 去除 像素 高光图像 高光像素 漫反射 反射 反射像素 分类标准 结果数据 镜面分量 色彩平衡 色度信息 像素分类 信息修复 传统的 块匹配 鲁棒性 原图像 分类 算法 样本 合并 | ||
【主权项】:
1.一种基于非饱和与饱和高光区分的图像高光去除方法,其特征在于,包括以下步骤:1)基于Shafer的双色反射光照模型和Shen在Chromaticity‑based separation of reflection components in a single image中提出的MSF图像模型对原图像进行处理,通过MSF图像模型将原图像中的所有像素分类为漫反射像素、不处理的混合像素和待处理的混合像素,并根据待处理的混合像素的漫反射分量强度值判断待处理的混合像素是否为饱和高光像素并进行标记,之后将原图像所有像素中不属于漫反射像素和饱和高光像素的像素标记为非饱和高光像素;2)通过MSF图像模型,在色度空间中去除非饱和高光像素的镜面反射分量得到对应的无高光的非饱和高光像素;3)通过样本块匹配方式修复饱和高光像素:根据待填充修复区域T边界处的纹理信息在已知区域H中寻找最优匹配样本块,用最优匹配样本块填充待填充修复区域T从而实现饱和高光像素所在区域的信息修复;4)合并漫反射像素、无高光的非饱和高光像素、修复后的饱和高光像素的像素数据,得到无高光的图像。
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