[发明专利]确定不良原因的方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910570414.0 | 申请日： | 2019-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN110276410B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 曾颖黎;刘亚光;杨素传 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06Q50/04 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 于小凤 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种确定不良原因的方法、装置、设备及存储介质，其中，确定不良原因的方法包括：在检测对象存在已知不良时，抽取所述检测对象的生产数据，所述生产数据至少包括生产履历数据、生产设备的标识以及生产设备参数中的一种；将所述生产数据输入预先训练得到的模型，得到与所述已知不良有关的生产工序、生产设备以及生产设备参数中的至少一种，其中，所述模型根据所述检测对象的生产样本数据进行训练得到，所述生产样本数据中的各条数据标记了与所述已知不良之间的相关性，本发明可提高确定不良原因的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 不良 原因 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种确定不良原因的方法，其特征在于，包括：在检测对象存在已知不良时，抽取所述检测对象的生产数据，所述生产数据至少包括生产履历数据、生产设备的标识以及生产设备参数中的一种；将所述生产数据输入预先训练得到的模型，得到与所述已知不良有关的生产工序、生产设备以及生产设备参数中的至少一种，其中，所述模型根据所述检测对象的生产样本数据进行训练得到，所述生产样本数据中的各条数据标记了与所述已知不良之间的相关性。
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