[发明专利]一种基于扩展巴氏距离的复双谱对角切片特征提取方法在审
| 申请号： | 201910570763.2 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110309766A | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 王磊;王勇;胡以华;郝士琦;赵青松;马涛;朱然刚;徐世龙;骆盛;靳小会 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 赵瑜;金凯 |
| 地址： | 230037 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及通信领域，具体说是一种基于扩展巴氏距离的复双谱对角切片特征提取方法，包括以下步骤：（1）计算信号的双谱B(ω1,ω2)；（2）计算信号的双谱对角切片；（3）设置Chirp‑Z变换中的各个参数，计算信号复双谱对角切片；（4）计算所有信号类别组合(i,j)的扩展巴氏距离mij(ω)，根据计算得到的扩展巴氏距离值将双谱分为“可用双谱Bl”和“无关双谱BN”；（5）筛选出Bl中双谱mij(ω)包含(i,j)类信号的分类信息，取M个最大的扩展巴氏距离值进行排序；（6）从相应的复双谱对角切片值中选取特征值组成特征向量。本发明通过信号双谱对角切片提取特征，降低了计算量，同时利用Chirp‑Z变换避免了一维特征导致存在的特征丢失问题。 | ||
| 搜索关键词： | 双谱对角切片 巴氏距离 双谱 计算信号 特征提取 分类信息 特征丢失 特征向量 提取特征 通信领域 信号类别 一维特征 计算量 可用 排序 筛选 | ||
【主权项】：
1.一种基于扩展巴氏距离的复双谱对角切片特征提取方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)计算信号的双谱B(ω1,ω2)；(2)计算信号的双谱对角切片；(3)设置Chirp‑Z变换中的各个参数，计算信号复双谱对角切片；(4)计算所有信号类别组合(i,j)的扩展巴氏距离mij(ω)，根据计算得到的扩展巴氏距离值将双谱分为“可用双谱Bl”和“无关双谱BN”；(5)筛选出可用双谱Bl中双谱mij(ω)包含(i,j)类信号的分类信息，取M个最大的扩展巴氏距离值进行排序，其中，M为可用双谱总数的15％‑30％；(6)从相应的复双谱对角切片值中选取特征值组成特征向量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学，未经中国人民解放军国防科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910570763.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
