[发明专利]一种用于毫米波天线近场校准及幅相扫描的测试系统及其使用方法在审
| 申请号： | 201910571754.5 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110488099A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 经莹轩 | 申请（专利权）人： | 成都华兴大地科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 31339 上海启核知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈莉<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 发明提供了一种用于毫米波天线近场校准及幅相扫描的测试系统及其使用方法，依托可移动的微波屏蔽暗箱，根据微波测试理论，通过数学算法实现待测天线设备高效、高精度的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 毫米波天线 测试系统 数学算法 天线设备 微波测试 微波屏蔽 校准 可移动 近场 扫描 暗箱 测试 | ||
【主权项】：
1.一种用于毫米波天线近场校准及幅相扫描的测试系统，用于对待测天线设备进行测试，其特征在于，包括：可移动微波屏蔽暗箱、四轴运动子系统、矢量网络分析仪、激光测距仪、工控机、近场测试探头、安装平台以及伺服驱动系统；/n其中，所述近场测试探头连接于所述激光测距仪；/n所述激光测距仪连接于所述四轴运动子系统；/n所述四轴运动子系统和安装平台位于所述可移动微波屏蔽暗箱内，且所述安装平台与所述四轴运动子系统相对；/n所述矢量网络分析仪、四轴运动子系统、激光测距仪、伺服驱动系统以及待测天线设备与所述工控机通信连接。/n
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