[发明专利]一种不同测试站点晶圆MAP图文件合并处理方法及系统

摘要

本发明公开了一种不同测试站点晶圆MAP图文件合并处理方法及系统，所述处理方法包括以下步骤：选择不同测试站点的MAP图文件；显示不同测试站点的MAP图文件的文件名；比较显示的各个测试站点MAP图文件的文件名是否正确以及不同测试站点的MAP图文件的批号、刻号以及数量是否一致，若是，进入下一步，若否，则报错退出；合并不同测试站点晶圆MAP图文件；本发明提供的不同测试站点晶圆MAP图文件合并处理方法及系统对不同测试站点产生的晶圆MAP图进行批量合并，相比手动合并，更高效；与此同时，本发明重新计算晶圆MAP图文件合并后的良率，保证后续封装取晶粒的正确性，避免损失，可以更准确地完成不同测试站点晶圆MAP图文件的合并，而且提高封装效率。

主权项

1.一种不同测试站点晶圆MAP图文件合并处理方法，其特征在于，包括以下步骤：S100，选择不同测试站点的MAP图文件；S200，显示不同测试站点的MAP图文件的文件名；S300，比较显示的各个测试站点MAP图文件的文件名是否正确以及不同测试站点的MAP图文件的批号、刻号以及数量是否一致，若是，进入步骤S400，若否，则报错退出；S400，给系统配置合并后的MAP图文件参数；S510，读取不同测试站点的第一组同一批号和刻号的MAP图文件；S520，将不同测试站点同一批号和刻号的MAP图文件的晶粒对应；S530，比较不同测试站点同一批号和刻号的MAP图文件对应晶粒的标记，判断对应晶粒是否全部为好的晶粒，若是，将对应晶粒仍然标记为好的晶粒，若否，将对应晶粒标记为坏的晶粒，直到完成不同测试站点同一批号和刻号的MAP图文件所有对应晶粒的重新标记；S540，根据不同测试站点同一批号和刻号的MAP图文件所有对应晶粒的重新标记，重新计算不同测试站点同一批号和刻号的MAP图文件的好的晶粒的数量、坏的晶粒的数量以及良率；S550，按照步骤S420给系统配置的合并后的MAP图文件参数，步骤S430重新标记的对应晶粒，步骤S440重新计算得到的好的晶粒的数量、坏的晶粒的数量以及良率，生成不同测试站点的当前组同一批号和刻号的MAP图文件合并后的文件；S560，存储合并后的文件；S570，读取不同测试站点的下一组同一批号和刻号的MAP图文件，返回步骤S520，直到完成步骤S100选择的不同测试站点所有组同一批号和刻号的MAP图文件的合并。