[发明专利]检测光学系统任意波长透射波前的方法有效

专利信息
申请号: 201910573002.2 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN110307962B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 张齐元;韩森;吴鹏;王全召;李雪园 申请(专利权)人: 苏州维纳仪器有限责任公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 215123 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了两种检测光学系统任意波长透射波前的方法,一种是利用4种波长为λ1~λ4的激光干涉仪分别对复消色差光学系统进行检测,进而通过Zernike多项式拟合波长为λn的光学系统的透射波前;另一种是通过利用4种波长为λ1~λ4的检测装置分别对光学系统进行检测,进而通过离散点波前像差公式得到波长为λn的光学系统完整的透射波前。这两种方法均能够应用在单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中,从而解决主要的透射式光学系统任意波长波前检测的问题。不仅使得特殊波长的激光干涉仪的检测范围变大,而且当需要检测一些特殊的光学系统时,也不需要使用造价昂贵的特殊波长的激光干涉仪进行检测,节约了检测成本。
搜索关键词: 检测 光学系统 任意 波长 透射 方法
【主权项】:
1.一种检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,利用4种波长为λ1~λ4的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到所述光学系统在波长为λ1~λ4的Zernike多项式Z11)、Z21)、……Zk1)以及Z14)、Z24)、……Zk4);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式:式中,i=1,2,3,…,k,k≤37,m=1,2,3,4,当400nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤1000nm时,1≤X1≤4.9,5≤X2≤8.7,0.1≤X3≤1.4,8.3≤X1+X2≤10.6,当300nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2500nm时,2.7≤X1≤3.6,6.2≤X2≤7.3,0.9≤X3≤1,9.8≤X1+X2≤10,计算参数Ai、Bi、Ci和Di的值;步骤三,将计算得到的Ai、Bi、Ci和Di的值代入公式(1)中,计算波长为λn的光学系统的Zernike多项式Zkn);以及步骤四,根据Zkn)拟合波长为λn的光学系统的透射波前。
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