[发明专利]检测光学系统任意波长透射波前的方法有效
申请号: | 201910573002.2 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110307962B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 张齐元;韩森;吴鹏;王全召;李雪园 | 申请(专利权)人: | 苏州维纳仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 215123 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明提供了两种检测光学系统任意波长透射波前的方法,一种是利用4种波长为λ |
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搜索关键词: | 检测 光学系统 任意 波长 透射 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检测光学系统任意波长透射波前的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,利用4种波长为λ1~λ4的激光干涉仪分别对光学系统进行检测,分别得到所述光学系统在波长为λ1~λ4的Zernike多项式Z1(λ1)、Z2(λ1)、……Zk(λ1)以及Z1(λ4)、Z2(λ4)、……Zk(λ4);步骤二,将步骤一得到的Zernike多项式代入公式:式中,i=1,2,3,…,k,k≤37,m=1,2,3,4,当400nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤1000nm时,1≤X1≤4.9,5≤X2≤8.7,0.1≤X3≤1.4,8.3≤X1+X2≤10.6,当300nm≤λ1≠…≠λm≠λn≤2500nm时,2.7≤X1≤3.6,6.2≤X2≤7.3,0.9≤X3≤1,9.8≤X1+X2≤10,计算参数Ai、Bi、Ci和Di的值;步骤三,将计算得到的Ai、Bi、Ci和Di的值代入公式(1)中,计算波长为λn的光学系统的Zernike多项式Zk(λn);以及步骤四,根据Zk(λn)拟合波长为λn的光学系统的透射波前。
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