[发明专利]一种基于透射率变化的变尺度鬼成像方法有效
申请号: | 201910574158.2 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110475081B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 王肖霞;习江涛;杨风暴;陶勇;闫国庆 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357;H04N5/217 |
代理公司: | 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 | 代理人: | 朱源 |
地址: | 030051 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及鬼成像(或关联成像)技术,具体为一种基于透射率变化的变尺度鬼成像方法。本发明为了解决现有赝热光鬼成像技术中因成像质量受散斑图案、物体透过率影响,因而成像效果不甚理想的问题,提供了一种基于透射率变化的变尺度鬼成像方法。该方法将散斑图作为噪声源,利用物体各点透射率的变化来调节尺度因子,有效提高了鬼图像信噪比。本发明所述的变尺度鬼成像方法创新性地将散斑图作为噪声源,解决了差分鬼成像中由于比例因子不变所造成的信噪比低的问题,提高了鬼图像信噪比和对比度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 透射率 变化 尺度 成像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于透射率变化的变尺度鬼成像方法,其特征在于包括以下步骤:/n第一步、根据二阶相关原理,将被照物体的重构公式进行分解/n 其中, 为重构的(x,y)点处被照物体透射率,Ia(x,y;n)为第n个散斑图案;Ib(n)为单像素探测器第n个测量值,T(u,v)为(u,v)点处被照物体透射率,<·>为相关运算符;/n第二步、通过不同透射率物体的重构结果对噪声项进行分析:当被照物体在(u,v)点的透射率T(u,v)=D时,D∈[0,1],被照物体的重构公式变为 其中 为散斑图案的自相关函数;设定 为基础噪声,并将其移到原点,这时噪声项为 其中,m为基础噪声直方图水平轴的中心;D为依赖于透射率的尺度因子;/n第三步、被照物体各点透射率不同时,比例因子D的确定:/n(1)比例因子D取值范围为[0,Dmax];其中,Dmax为D的最大值Dmax=<Ib>/<∑Ia(x,y)>,其中,<Ib>为单像素探测器n个测量值的平均值;<∑Ia(x,y)>为n个散斑图案所有像素值和的平均;/n(2)以鬼图像重构结果 的平均透射率 为参考点,将 作为鬼图像平均透射率的分界点,令/n /n第四步、被照物体的鬼图像为 /n
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