[发明专利]托卡马克密度涨落和电磁场涨落相关性测量装置在审
| 申请号： | 201910574318.3 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN112147422A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 钟武律;石中兵;杨曾辰;梁桉树;闻杰;段旭如 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;H05H1/00;G21B1/25 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高安娜 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于核聚变等离子体诊断领域，具体一种托卡马克密度涨落和电磁场涨落相关性测量装置。包括发射微波源和微波本征源，包括与发射微波源连接的微波发射链路、与微波本征源连接的微波本征链路、微波接收天线、正交模转换器；微波接收天线上安装角度旋转装置。本装置能够实现严格的等离子体密度涨落和磁涨落分别同时测量，从而实现局域测量物理量之间的相关性计算，系统具有集成度高，简便灵活，成本低，易维护的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 马克 密度 涨落 电磁场 相关性 测量 装置 | ||
【主权项】：
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