[发明专利]一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法在审
申请号: | 201910575277.X | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110429020A | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 郭艳;黄嘉斌;赵增超;李明 | 申请(专利权)人: | 湖南红太阳光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C23C16/44;C23C16/455;C23C16/513;C23C16/54 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 周长清;朱伟雄 |
地址: | 410205 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法,包括如下步骤:S1、将单晶硅片置于管式PECVD设备的炉管;S2、对单晶硅片进行前处理;S3、在单晶硅片上沉积第一层本征非晶硅薄膜;S4、在第一层本征非晶硅薄膜上沉积掺磷N型氢化非晶硅薄膜;S5、将单晶硅片进行翻面后置于另一个石墨载具,并置于管式PECVD设备的另一个炉管中,抽真空,恒温;S6、在单晶硅片背面上沉积第二层本征非晶硅薄膜;S7、在第二层本征非晶硅薄膜上沉积掺硼P型氢化非晶硅薄膜。本发明的方法设备成本低、占地面积小,生产产能高、经济效应好,同时实现了本征非晶硅层和掺杂非晶硅层的制备,减少了异质结制备所需的工艺腔和工艺步骤。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅片 本征非晶硅薄膜 沉积 制备 非晶硅薄膜 第一层 管式 炉管 种管 本征非晶硅层 掺杂非晶硅层 工艺步骤 经济效应 设备成本 抽真空 工艺腔 前处理 异质结 石墨 掺磷 掺硼 产能 翻面 载具 背面 生产 | ||
【主权项】:
1.一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将装载有单晶硅片的石墨载具置于管式PECVD设备的炉管中,抽真空,将炉管恒温至200±50℃;S2、往炉管中通入NH3或SiH4和N2O的混合气体,开启30kHz~50MHz电源,对单晶硅片进行前处理;S3、往炉管中通入SiH4和H2,开启30kHz~50MHz电源,在经所述前处理的单晶硅片上沉积第一层本征非晶硅薄膜;S4、往炉管中通入SiH4、H2和PH3,开启30kHz~50MHz电源,在所述第一层本征非晶硅薄膜上沉积掺磷N型氢化非晶硅薄膜;S5、取出石墨载具,将单晶硅片进行翻面后置于另一个石墨载具,并将装载翻面后单晶硅片的石墨载具置于管式PECVD设备的另一个炉管中,抽真空,将炉管恒温至200±50℃;S6、往炉管中通入SiH4和H2,开启30kHz~50MHz电源,在单晶硅片背面上沉积第二层本征非晶硅薄膜;S7、往炉管中通入SiH4、H2和BH3或B2H6,开启30kHz~50MHz电源,在所述第二层本征非晶硅薄膜上沉积掺硼P型氢化非晶硅薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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