[发明专利]一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201910575277.X 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN110429020A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 郭艳;黄嘉斌;赵增超;李明 申请(专利权)人: 湖南红太阳光电科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C23C16/44;C23C16/455;C23C16/513;C23C16/54
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清;朱伟雄
地址: 410205 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法,包括如下步骤:S1、将单晶硅片置于管式PECVD设备的炉管;S2、对单晶硅片进行前处理;S3、在单晶硅片上沉积第一层本征非晶硅薄膜;S4、在第一层本征非晶硅薄膜上沉积掺磷N型氢化非晶硅薄膜;S5、将单晶硅片进行翻面后置于另一个石墨载具,并置于管式PECVD设备的另一个炉管中,抽真空,恒温;S6、在单晶硅片背面上沉积第二层本征非晶硅薄膜;S7、在第二层本征非晶硅薄膜上沉积掺硼P型氢化非晶硅薄膜。本发明的方法设备成本低、占地面积小,生产产能高、经济效应好,同时实现了本征非晶硅层和掺杂非晶硅层的制备,减少了异质结制备所需的工艺腔和工艺步骤。
搜索关键词: 单晶硅片 本征非晶硅薄膜 沉积 制备 非晶硅薄膜 第一层 管式 炉管 种管 本征非晶硅层 掺杂非晶硅层 工艺步骤 经济效应 设备成本 抽真空 工艺腔 前处理 异质结 石墨 掺磷 掺硼 产能 翻面 载具 背面 生产
【主权项】:
1.一种管式PECVD设备制备非晶硅薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将装载有单晶硅片的石墨载具置于管式PECVD设备的炉管中,抽真空,将炉管恒温至200±50℃;S2、往炉管中通入NH3或SiH4和N2O的混合气体,开启30kHz~50MHz电源,对单晶硅片进行前处理;S3、往炉管中通入SiH4和H2,开启30kHz~50MHz电源,在经所述前处理的单晶硅片上沉积第一层本征非晶硅薄膜;S4、往炉管中通入SiH4、H2和PH3,开启30kHz~50MHz电源,在所述第一层本征非晶硅薄膜上沉积掺磷N型氢化非晶硅薄膜;S5、取出石墨载具,将单晶硅片进行翻面后置于另一个石墨载具,并将装载翻面后单晶硅片的石墨载具置于管式PECVD设备的另一个炉管中,抽真空,将炉管恒温至200±50℃;S6、往炉管中通入SiH4和H2,开启30kHz~50MHz电源,在单晶硅片背面上沉积第二层本征非晶硅薄膜;S7、往炉管中通入SiH4、H2和BH3或B2H6,开启30kHz~50MHz电源,在所述第二层本征非晶硅薄膜上沉积掺硼P型氢化非晶硅薄膜。
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