[发明专利]一种滑轨多参数测量方法以及测量装置有效
| 申请号： | 201910578191.2 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110349174B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 易俊;陈韦兆;曾亚光;韩定安;王茗祎;周月霞;张尚贤;冯俊键 | 申请（专利权）人： | 佛山科学技术学院 |
| 主分类号： | G06T7/155 | 分类号： | G06T7/155;G06T7/187;G06T7/66;G01B11/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 蔡伟杰 |
| 地址： | 528000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种滑轨多参数测量方法以及测量装置，测量方法包括驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；将样品图像中所存在的图像孤立点滤除；采用区域生长算法对样品图像进行图像分割操作，将待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；采用拼接算法对待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。本发明通过拼接算法实现多个待测图像的拼接操作，将多个待测图像拼接在一起形成一个包含有整个待测样品的整体图像，之后基于点拼接计算待测样品的各项参数，整个计算过程计算量低，参数检测精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 滑轨 参数 测量方法 以及 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤100，驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；步骤200，将所采集的多个样品图像中所存在的图像孤立点滤除；步骤300，采用区域生长算法对所采集的多个样品图像进行图像分割操作，将多个所述待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；步骤400，采用拼接算法对多个所述待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；步骤500，基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。
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