[发明专利]PCIE SSD产品的一站式集成测试方法及其装置

摘要

本发明涉及PCIE SSD产品的一站式集成测试方法及其装置；其中，方法，包括：S1，扫描BIB SN，加载并扫描SSD SN；S2，将BIB SN与SSD SN进行关联，S3，将SSD SN Map保存；S4，将SSD SN信息加载到终端计算机；S5，回传Map日志和测试log到服务器；S6，服务器对测试log结果进行解析；S7，再次扫描BIB SN；S8，通过SN检测SSD产品；S9，通过分拣程序将通过的SSD产品分发到通过托盘中。本发明简化了测试工序及其对应装备，减少了操作上的冗余，增加了单批次测试数量，提高了测试效率，减少了测试设备的闲置时间，提高了利用率。

主权项

1.PCIE SSD产品的一站式集成测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，扫描Burn‑in board SN，然后SSD开始加载并扫描SSD SN；S2，将Burn‑in board SN与SSD SN进行关联，生成SSD SN Map；S3，将SSD SN Map通过服务器保存在MES系统中；S4，将SSD SN信息通过Burn‑in board SN开始逐一加载到测试平台的终端计算机上；S5，当测试平台上的SSD测试完毕后，回传Map日志和测试log到服务器；S6，服务器对测试log结果进行解析，并上传反馈到MES系统；S7，卸载SSD前，再次扫描Burn‑in board SN，然后SSD开始加载并扫描SSD SN；S8，通过SN检测SSD产品通过或不通过；若是不通过，显示出不通过对应的错误代码；S9，通过分拣程序将通过的SSD产品分发到通过托盘中，未通过的SSD产品分发到未通过托盘中。