[发明专利]无损检测装置及无损检测方法在审
| 申请号： | 201910579946.0 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110726739A | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 三好寿顕;富安一秀;中村涉;藤原健 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 44334 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 | 代理人： | 汪飞亚;习冬梅 |
| 地址： | 日本国大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 无损检测装置(10)包括X射线源(11)、检测X射线(19)的摄像面板(14)和遮蔽X射线的遮蔽板(15)，摄像面板(14)及遮蔽板(15)具有能够弯曲的可挠性。 | ||
| 搜索关键词： | 摄像面板 遮蔽板 无损检测装置 检测X射线 可挠性 遮蔽 | ||
【主权项】：
1.一种无损检测装置，其特征在于，包括：/n放射线源；/n摄像面板，其检测从所述放射线源射出并透过检测对象物的放射线；以及/n遮蔽板，其重叠配置在所述摄像面板的与所述放射线源相反一侧，用于遮蔽从所述摄像面板射出的放射线，/n所述摄像面板及所述遮蔽板具有能够弯曲的可挠性。/n
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