[发明专利]一种高精度智能高度测试装置与测试方法在审
申请号: | 201910583772.5 | 申请日: | 2019-07-01 |
公开(公告)号: | CN110307787A | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 吴行飞;吕桂芳 | 申请(专利权)人: | 吴行飞 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人: | 段志慧 |
地址: | 100176 北京市大兴区亦庄西*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种高精度智能高度测试装置与测试方法,包括支撑组件与测量组件,支撑组件包括测量台、定位座、支撑架,定位座固定在测量台上,测量组件安装在支撑架上,测量组件包括接触组件、气缸组件、光栅组件和线缆组件,能实现工件高度自动测量,自动控制,利用光栅尺测量,测量精度达到0.5微米。 | ||
搜索关键词: | 测量组件 测试装置 支撑组件 定位座 支撑架 测量 光栅尺测量 测试 光栅组件 接触组件 气缸组件 线缆组件 自动测量 智能 测量台 | ||
【主权项】:
1.一种高精度智能高度测试装置,其特征在于:包括支撑组件与测量组件,支撑组件包括测量台、定位座、支撑架,定位座固定在测量台上,测量组件安装在支撑架上,测量组件包括接触组件、气缸组件、光栅组件和线缆组件。
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