[发明专利]一种用于系外行星探测的DFDI仪器模型建立方法有效

专利信息
申请号: 201910584660.1 申请日: 2019-07-01
公开(公告)号: CN110399646B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 吴银花;高明;刘钧;张维光;吴慎将;聂亮;陈靖;程军霞 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G01V8/10;G01C21/24;G01J3/433
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种用于系外行星探测的DFDI仪器模型建立方法。所提供的技术方案是:首先基于DFDI工作原理,确定恒星干涉光谱Scod(k)与恒星光谱p(k)、光谱仪调制函数lsf(k)之间的关系式;再根据DFDI仪器待观测目标恒星吸收谱线的特性,模拟恒星光谱p(k);根据DFDI仪器后色散光谱仪中所用的光栅,模拟光谱仪调制函数lsf(k);并根据确定的关系书,推导出恒星干涉光谱Scod(k)及Scod_int(k);以波数k和光程差d为变量,将恒星二维干涉光谱Scod_int(k)用二维图形展示。本发明的优点是:提供了接近实际情况的仿真环境,所建立的仪器模型具有有效完整性,可进行仪器参数的定量分析。
搜索关键词: 一种 用于 外行 探测 dfdi 仪器 模型 建立 方法
【主权项】:
1.一种用于系外行星探测的DFDI仪器模型建立方法,依次包括下述步骤:步骤1:基于DFDI工作原理,确定恒星干涉光谱Scod(k)与恒星光谱p(k)、光谱仪调制函数lsf(k)之间的关系式其中:k表示波数,k1和k2表示进入系统的恒星光所覆盖的波数范围,d表示光程差,Iideal(k)表示经DFDI仪器的干涉仪形成的复色谱干涉条纹I(k),经光谱仪衍色后的理想干涉条纹(此时不考虑后色散器件‑光栅的模糊效应);步骤2:根据DFDI仪器待观测目标恒星吸收谱线的特性,利用各吸收线或发射线的吸收强度或发射强度A,中心波数为ka=1/λa和波数半高宽为来模拟恒星光谱p(k),其中:λa为中心波长,Δλa为波长半高宽;步骤3:根据DFDI仪器后色散光谱仪中所用的光栅,即光栅分辨率gr,模拟光谱仪调制函数lsf(k)步骤4:将步骤2中模拟的恒星光谱p(k)和步骤3中模拟的光谱仪调制函数lsf(k),代入步骤1中确定的关系式,并根据傅里叶变换中时域和频域的对应关系,推导出恒星干涉光谱Scod(k);步骤5:根据DFDI仪器中探测器沿色散方向上的采样率,即每个探测器单元所覆盖的波数宽度kint,将对步骤4中推导出的恒星干涉光谱Scod(k)进行积分,进一步获得探测器最终输出的恒星二维干涉光谱Scod_int(k)步骤6:以波数k和光程差d为变量,将恒星二维干涉光谱Scod_int(k),用二维图形展示。
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