[发明专利]一种基于resUnet的光学元器件损伤检测方法及系统有效
| 申请号： | 201910584766.1 | 申请日： | 2019-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN110334760B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数之联科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/04;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 熊曦 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于resUnet的光学元器件损伤检测方法及系统，所述方法包括：采集同一光学元器件的两组图像，一组为高分辨率图像A，一组为低分辨率图像B；分别二值化处理图像A和图像B；基于二值化处理后的图像A和图像B，依据图像A和图像B的对应关系生成标签数据；将标签数据对应的图像B的二值化图像切割为若干大小相同的子图像，将切割生成的子图像作为训练数据集；利用训练数据集训练resUnet模型；将图像B输入训练后的resUnet模型，获得光学元器件损伤检测结果；利用高分辨率图像标注光学元器件损伤点位置，无须人工打标，即可完成图像信息量非常少、高噪声的条件下光学元器件损伤点位置检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 resunet 光学 元器件 损伤 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于resUnet的光学元器件损伤检测方法，其特征在于，所述方法包括：采集同一光学元器件的两组图像A和图像B，其中A组为高分辨率图像，B组为低分辨率图像；分别二值化处理图像A和图像B；基于二值化处理后的图像A和图像B，依据图像A和图像B的对应关系生成标签数据；将标签数据对应的图像B的二值化图像切割为若干大小相同的子图像，将切割生成的子图像作为训练数据集；利用训练数据集训练resUnet模型；将图像B输入训练后的resUnet模型，获得光学元器件损伤检测结果。
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