[发明专利]基于微波成像技术的复合绝缘子检测方法和系统在审

专利信息
申请号: 201910585336.1 申请日: 2019-07-01
公开(公告)号: CN112241943A 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 罗洪宏;徐鹏;张云;苗琛;陶伟;李天福;刘校豪;陈玲;张元;袁利伟;石岩;钱应国;刘博 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司玉溪供电局
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/50;G01S13/89
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 郭伟刚
地址: 653100 *** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种基于微波成像技术的复合绝缘子检测方法,包括:通过微波探头对样品进行扫描,获取样品的每个扫描点的微波反射波和对应的飞行时间;计算并分析样品的每个扫描点的微波反射波幅值和对应的飞行时间值;计算每个扫描点的第一图像灰度值,生成幅值成像灰度图;计算每个扫描点的第二图像灰度值,生成飞行时间成像灰度图;对幅值成像灰度图和飞行时间成像灰度图进行小波图像融合,得到复合绝缘子检测图像。本发明通过对微波信息深度提取,实现基于微波的复合绝缘子成像检测,可对复合绝缘子界面缺陷进行快速检出,有利于保障复合绝缘子的正常运行。
搜索关键词: 基于 微波 成像 技术 复合 绝缘子 检测 方法 系统
【主权项】:
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