[发明专利]一种预测恒温晶振老化率的装置及方法有效
| 申请号： | 201910585624.7 | 申请日： | 2019-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN110309593B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 林潮兴;刘朝胜;邱文才;张辉 | 申请（专利权）人： | 广东大普通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06N3/04;G06N3/06;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市松山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种预测恒温晶振老化率的方法，包括：按照预设采样间隔获取恒温晶振与参考源之间的相位差；若所述相位差小于或等于预设阈值，则所述恒温晶振处于参考源锁定状态，按照预设获取间隔获取所述恒温晶振的状态参数至预设样本量阈值，并根据获取的状态参数确定对应的老化率BP神经网络算法，所述状态参数包括电压参数、温度参数、振动频率参数、压力参数及磁场参数中至少三种；若所述相位差大于预设阈值，则判断所述恒温晶振丢失所述参考源，再获取与老化率BP神经网络算法包含的状态参数种类相同的状态参数，根据每个状态参数及所述老化率BP神经网络算法确定对应的老化率。本发明的预测恒温晶振老化率的方法能够简化建模难度，提高精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 预测 恒温 老化 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种预测恒温晶振老化率的方法，其特征在于，包括：按照预设采样间隔获取恒温晶振与参考源之间的相位差；若所述相位差小于或等于预设阈值，则所述恒温晶振处于参考源锁定状态，按照预设获取间隔获取所述恒温晶振的状态参数至预设样本量阈值，并根据获取的状态参数确定对应的老化率BP神经网络算法，所述状态参数包括电压参数、温度参数、振动频率参数、压力参数及磁场参数中至少三种；若所述相位差大于预设阈值，则判断所述恒温晶振丢失所述参考源，再获取与老化率BP神经网络算法包含的状态参数种类相同的状态参数，根据每个状态参数及所述老化率BP神经网络算法确定对应的老化率。
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