[发明专利]一种CMOS图像信号相关噪声参数估计方法

摘要

本发明公开了一种CMOS图像信号相关噪声参数估计方法。图像灰度熵虽然对于无噪图像的纹理分析有较好的结果，但对于包含噪声的图像并不是十分理想。本发明的步骤如下：一、在目标图像中提取出多个大小为d×d的图像块。二、对每一个提取出的图像块利用局部二进制模式方法计算纹理强度。三、将各图像块按照纹理强度从小到大进行排序；取前M个图像块作为低纹理图像块。四、计算各低纹理图像块的各低纹理图像块的像素估计值和噪声方差估计值。五、得到目标图像的信号相关噪声参数。本发明通过改进的局部二值模式定义了一种较为精确的计算图像块纹理强度的新方法，并将其应用到低纹理图像块的选择中。

主权项

1.一种CMOS图像信号相关噪声参数估计方法，其特征在于：步骤一、在目标图像中提取出多个大小为d×d的图像块，10≤d≤25；/n步骤二、对每一个提取出的图像块利用局部二进制模式方法计算纹理强度；/n局部二进制模式方法具体如下：/n2-1.将2赋值给i和j；/n2-2.以图像块中第i行第j列像素点作为目标像素点；对目标像素点的像素值与目标像素点八领域内像素点的像素值分别作差，得到八个像素差值；若八领域内一个像素点对应的像素差值大于阈值z，则将该像素点标记为1，否则，将该像素点标记为0；/n2-3.计算目标像素点八领域内像素点的标记跳变次数t(i,j)；若目标像素点八领域内相邻像素点的标记不相同，则表示一次标记跳变；之后，进入步骤2-4；/n2-4.若j＜d-1，则将j增大1，并执行步骤2-2和2-3；若j＝d-1且i＜d-1，则将1赋值给j，将i增大1，并执行步骤2-2和2-3；否则，计算图像块的纹理信息/n步骤三、将各图像块按照纹理强度T_k从小到大进行排序；取前M个图像块作为低纹理图像块；M＝λ·(p-d+1)·(q-d+1)；10％≤λ≤25％；/n步骤四、计算各低纹理图像块的各低纹理图像块的像素估计值和噪声方差估计值，具体如下：/n计算各低纹理图像块的像素估计值其中，G_k(i,j)为第k张低纹理图像块内第i行第j列像素点的像素值，k＝1,2,…,M；/n计算第k张低纹理图像块的噪声方差估计值其中，为向量的二范数；G_k为第k张低纹理图像块对应的图像矩阵；u_min是第k张低纹理图像块的最小方差方向，最小方差方向为协方差矩阵∑_G的最小特征值所对应的特征向量：/n步骤五、对步骤四得到的M个像素-噪声方差估计值数对进行线性最小二乘拟合，得到目标图像对应的信号相关噪声参数。/n