[发明专利]一种功率芯片及其制备方法在审
申请号: | 201910589553.8 | 申请日: | 2019-07-02 |
公开(公告)号: | CN110400776A | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | 陈道坤;敖利波;史波;曾丹 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L21/768;H01L23/538;H01L27/06 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 519070 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及电子芯片技术领域,公开一种功率芯片及其制备方法。在衬底的一侧表面形成沟道层和势垒层,通过隔离工艺形成一个SBD有源区和一个HEMT有源区;在势垒层上形成芯片器件层,芯片器件层包括SBD阳极、SBD阴极、HEMT源极、HEMT漏极、HEMT栅极、第一金属层、阳极焊盘和阴极焊盘,SBD阴极与HEMT源极通过第一金属层电连接,SBD阳极和HEMT栅极与阳极焊盘电连接,HEMT漏极与阴极焊盘电连接;在芯片器件层上形成表面钝化介质层,并通过构图工艺在表面钝化介质层上形成过孔以露出阳极焊盘和阴极焊盘。本申请实施例可同时实现低开启电压和高反向耐压,降低封装难度,减小芯片寄生效应,提高电路工作效率。 | ||
搜索关键词: | 芯片器件 阳极焊盘 阴极焊盘 电连接 阴极 第一金属层 阳极 表面钝化 功率芯片 介质层 势垒层 漏极 源极 源区 制备 表面形成沟道层 电路工作效率 电子芯片 反向耐压 隔离工艺 构图工艺 寄生效应 开启电压 衬底 减小 封装 芯片 申请 | ||
【主权项】:
1.一种功率芯片的制备方法,其特征在于,包括:在衬底的一侧表面依次形成沟道层和势垒层,并通过隔离工艺在所述势垒层和沟道层之上形成一个肖特基势垒二极管SBD有源区和一个高电子迁移率晶体管HEMT有源区;在所述势垒层上形成芯片器件层,芯片器件层包括SBD阳极、SBD阴极、HEMT源极、HEMT漏极、HEMT栅极、第一金属层、阳极焊盘和阴极焊盘,其中,所述SBD阳极、SBD阴极位于SBD有源区,所述HEMT源极、HEMT漏极、HEMT栅极位于HEMT有源区,其中,所述SBD阴极与HEMT源极通过第一金属层电连接,所述SBD阳极和HEMT栅极与阳极焊盘电连接,所述HEMT漏极与阴极焊盘电连接;在所述芯片器件层上形成表面钝化介质层,并通过构图工艺在所述表面钝化介质层上形成过孔以露出所述阳极焊盘和阴极焊盘。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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