[发明专利]低成本内置自测试中心测试在审
| 申请号： | 201910593405.3 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110908849A | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 彼得·巴伦;元驰 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及低成本内置自测试中心测试。内置自测试(BIST)中心自动测试设备(ATE)框架可以包括主控制器和一个或多个测试器单元。主机控制器可以被配置为接收发起对多个被测设备(DUT)的测试的一个或多个输入。一个或多个测试器单元可以包括多个通用异步接收器‑发送器(UART)通信链路。UART通信链路可以被配置为发送用于发起和控制多个DUT中的内置自测试(BIST)的一个或多个命令。UART通信链路还可以被配置为从多个DUT接收BIST的测试输出数据。主机控制器还可以配置为输出BIST的测试输出数据。 | ||
| 搜索关键词： | 低成本 内置 测试中心 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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