[发明专利]一种厚膜材料磁导率的测量夹具有效
| 申请号： | 201910593433.5 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110231583B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 梁迪飞;袁玉灵;李维佳;陈良;谢建良;邓龙江 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种厚膜材料磁导率的测量夹具，属于电子材料测量领域，包括由由金属壁构成的回字形金属腔3、同轴线4、金属导带5，所述同轴线4位于金属腔3的一侧壁中，包括同轴线外导体6和同轴线内导体7，所述金属导带5设置于金属腔3中心位置，其一端与同轴线内导体7相连，另一端与金属腔3另一侧壁接触，待测材料8放置于金属导带5正上方或正下方的金属腔3内。本发明提供的测量夹具可以直接将材料进行电磁参数测试，避免了对材料的破坏，打破了材料测试要压环的局限。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 磁导率 测量 夹具 | ||
【主权项】：
1.一种厚膜材料磁导率的测量夹具，包括：由金属壁构成的回字形金属腔(3)、同轴线(4)、金属导带(5)；所述同轴线(4)位于金属腔(3)的一侧壁中，包括同轴线外导体(6)和同轴线内导体(7)；所述金属导带(5)设置于金属腔(3)的中心位置，其一端与同轴线内导体(7)相连，另一端与金属腔(3)另一侧壁接触；待测材料(8)放置于金属导带(5)正上方或正下方的金属腔(3)内。
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