[发明专利]无掩模直写光刻系统在审
申请号: | 201910597946.3 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN110441991A | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 胡敬佩;张冲;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种无掩模直写光刻系统,包括直写光源、能量控制单元、激光分束控制与扫描单元、聚焦伺服单元、红光检测单元、多轴工件平台和控制单元。在控制单元的总体控制下,所述的直写光源发出的光经过能量控制单元的控制、照射到激光分束控制与扫描单元上,经激光分束控制与扫描单元调控后,再经过聚焦伺服单元聚焦和红光检测单元的检测,最终将多路光束平行地聚焦在光刻胶上进行直写。本发明能够实现多光束的独立控制、并行直写和二维振镜扫描,比单点扫描系统提升了成倍的光刻效率。提升了直写光刻机的扫描速率及扫描自由度。 | ||
搜索关键词: | 直写 扫描单元 分束 聚焦伺服单元 能量控制单元 激光 光刻系统 扫描 无掩模 红光 光源 检测 聚焦 直写光刻机 独立控制 二维振镜 工件平台 光束平行 扫描系统 总体控制 多光束 光刻胶 单点 多路 多轴 光刻 并行 照射 调控 | ||
【主权项】:
1.一种无掩模直写光刻系统,其特征在于,包括直写光源(1)、能量控制单元(2)、激光分束控制与扫描单元(3)、聚焦伺服单元(4)、红光检测单元(5)、多轴工件平台(6)和控制单元(7),沿所述的直写光源(1)的输出光的方向依次是所述的能量控制单元(2)、激光分束控制与扫描单元(3)、聚焦伺服单元(4)、红光检测单元(5)和多轴工件平台(6),所述的控制单元(7)分别与所述的能量控制单元(2)、激光分束控制与扫描单元(3)、聚焦伺服单元(4)、红光检测单元(5)、多轴工件平台(6)的控制端相连;所述激光分束控制与扫描单元(3)包括微透镜阵列(31)、阵列型声光调制器(32)、反射镜(33)和二维MEMS扫描振镜(34),所述的微透镜阵列(31)实现单光束到多光束的分光,每束光经过相应的声光调制器(32)的独立调控后,再经反射镜(33)的反射,最后聚焦到二维MEMS扫描振镜(34)的反射面上,通过MEMS振镜(34)的二维旋转,实现多光束的二维振镜扫描;所述二维MEMS扫描振镜(34),外部结构包括镜面(341)、扭转梁(342)、镜框(343),所述的镜面(341)通过扭转梁(342)与所述的镜框(343)相连;内部结构包括驱动器、电极、引线和支撑基板,所述的电极位于镜面(341)和镜框(343)背面以及支撑基板的上表面,其中镜面(341)和镜框(343)背部的电极与支撑基板表面电极的位置和个数相对应,并构成平板电容器,支撑基板的电极通过导线与其背部的驱动器相连,驱动器通过控制电极的电压来控制由镜面、支撑基板和镜框、支撑基板构成的平板电容器,从而改变光束的出射角度。
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